Таблица 35.1.4. Примеры методов собственной оценки (С) и сторонней оценки (П) при шизофренических расстройствах
Методы
|
Постановка цели
|
Методика
|
Краткая психиатрическая рейтинговая шкала (BPRS, Brief Psychiatric Rating Scale) (П) (Lukoff et al., 1987)
|
Обследование пациентов, проходящих стационарное лечение, по 5 параметрам психического расстройства
|
18 пунктов, которые оцениваются после клинического интервью
|
Шкала наблюдений для оценки стационарных больных (NOSIE, Nurses Observation Scale for Inpatient Evaluation) (П) (Honigfeld et al., 1996)
|
Оценка поведения стационарных больных медперсоналом по 7 факторам
|
30 пунктов, для оценки поведения в течение последних трех дней
|
Шкала выявления негативных симптомов (SANS, Scale for the Assessment of Negative Symptoms) (П, C) (Dieterle et al., 1986)
|
Регистрация шизофренической минус-симптоматики по 5 параметрам (ослабление аффекта, алогичность, апатия, ухудшение внимания, ангедония)
|
Наблюдение за поведением и собственная оценка во время клинического интервью (30 пунктов)
|
Шкала позитивных и негативных синдромов (PANSS, Positive and Negative Syndrome Scale) (П) (Kay et al., 1987)
|
Регистрация позитивной и негативной симптоматики, а также общей психопатологии
|
Оценка на основе клинического интервью и поведения за последние 7 дней (30 пунктов)
|
Шкала параноидности и депрессивности (PD-S, Paranoid-Depressivitats-Skala) (С) (v. Zerssen, 1976)
|
Регистрация субъективных нарушений: 1) депрессивно-тревожной дисфории, 2) параноидных тенденций, а также 3) отрицания болезни
|
Опросник из 43 пунктов
|
Интенциональная шкала (InSka, IntentionalitatsSkala) (П) (Mundt et al., 1985)
|
Регистрация шизофренической остаточной симптоматики
|
60 пунктов, для оценки симптомов на основе поведения в течение последних двух недель
|
Франкфуртский опросник нарушений (FBF, Frankfurter Beschwerde-Fragebogen) (C) (S?llwold, 1991)
|
Собственная оценка субъективно переживаемых нарушений и дефицитов (основные симптомы) по 10 категориям
|
Опросник или интервью (98 пунктов)
|
Примечание 35.1.1. Краткое описание шкалы позитивных и негативных симптомов (Positive and Negative Syndrome Scale PANSS; Kay et al. 1987, 1988, 1990)
Наименование, автор
Positive and Negative Syndrome Scale PANSS (Kay et al. 1987, 1988, 1990)
Область применения
Регистрация шизофренической позитивной и негативной симптоматики, а также общей психопатологии
Структура метода
- Основой для оценки является интервью, а также поведение за последние 7 дней. Этот метод сторонней оценки состоит из 30 пунктов (градация пунктов 1-7:1 = не присутствует, 2 = предположительно патологический, 3 = легко выраженный, 4 = средне выраженный... 7 = крайне тяжело выраженный).
— 1029 —
|