Клиническая психология

Страница: 1 ... 10241025102610271028102910301031103210331034 ... 1335

Таблица 35.1.4. Примеры методов собственной оценки (С) и сторонней оценки (П) при шизофренических расстройствах

Методы

Постановка цели

Методика

Краткая психиатрическая рейтинговая шкала (BPRS, Brief Psychiatric Rating Scale) (П) (Lukoff et al., 1987)

Обследование пациентов, проходящих стационарное лечение, по 5 параметрам психического расстройства

18 пунктов, которые оцениваются после клинического интервью

Шкала наблюдений для оценки стационарных больных (NOSIE, Nurses Observation Scale for Inpatient Evaluation) (П) (Honigfeld et al., 1996)

Оценка поведения стационарных больных медперсоналом по 7 факторам

30 пунктов, для оценки поведения в течение последних трех дней

Шкала выявления негативных симптомов (SANS, Scale for the Assessment of Negative Symptoms) (П, C) (Dieterle et al., 1986)

Регистрация шизофренической минус-симптоматики по 5 параметрам (ослабление аффекта, алогичность, апатия, ухудшение внимания, ангедония)

Наблюдение за поведением и собственная оценка во время клинического интервью (30 пунктов)

Шкала позитивных и негативных синдромов (PANSS, Positive and Negative Syndrome Scale) (П) (Kay et al., 1987)

Регистрация позитивной и негативной симптоматики, а также общей психопатологии

Оценка на основе клинического интервью и поведения за последние 7 дней (30 пунктов)

Шкала параноидности и депрессивности (PD-S, Paranoid-Depressivitats-Skala) (С) (v. Zerssen, 1976)

Регистрация субъективных нарушений: 1) депрессивно-тревожной дисфории, 2) параноидных тенденций, а также 3) отрицания болезни

Опросник из 43 пунктов

Интенциональная шкала (InSka, IntentionalitatsSkala) (П) (Mundt et al., 1985)

Регистрация шизофренической остаточной симптоматики

60 пунктов, для оценки симптомов на основе поведения в течение последних двух недель

Франкфуртский опросник нарушений (FBF, Frankfurter Beschwerde-Fragebogen) (C) (S?llwold, 1991)

Собственная оценка субъективно переживаемых нарушений и дефицитов (основные симптомы) по 10 категориям

Опросник или интервью (98 пунктов)

Примечание 35.1.1. Краткое описание шкалы позитивных и негативных симптомов (Positive and Negative Syndrome Scale PANSS; Kay et al. 1987, 1988, 1990)

Наименование, автор

Positive and Negative Syndrome Scale PANSS (Kay et al. 1987, 1988, 1990)

Область применения

Регистрация шизофренической позитивной и негативной симптоматики, а также общей психопатологии

Структура метода

- Основой для оценки является интервью, а также поведение за последние 7 дней. Этот метод сторонней оценки состоит из 30 пунктов (градация пунктов 1-7:1 = не присутствует, 2 = предположительно патологический, 3 = легко выраженный, 4 = средне выраженный... 7 = крайне тяжело выраженный).

— 1029 —
Страница: 1 ... 10241025102610271028102910301031103210331034 ... 1335